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J-GLOBAL ID：201602249075566404   整理番号：16A0806431

2光子共焦点顕微鏡を用いたZnSe結晶における欠陥の可視化と特性化【Powered by NICT】

Defect vizualization and characterization in ZnSe crystals using two-photon confocal microscopy

著者 (9件)： Gladilin A. A. (A. M. Prokhorov General Physics Institute, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia) ,  Kalinushkin V. P. (A. M. Prokhorov General Physics Institute, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia) ,  Uvarov O. V. (A. M. Prokhorov General Physics Institute, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia) ,  Gavrischuk E. M. (G. G. Devyatykh Institute of Chemistry of High-Purity Substances, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia) ,  Timofeeva N. A. (G. G. Devyatykh Institute of Chemistry of High-Purity Substances, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia) ,  Iconnikov V. B. (G. G. Devyatykh Institute of Chemistry of High-Purity Substances, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia) ,  Studenikin M. I. (A. M. Prokhorov General Physics Institute, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia) ,  Chapnin V. A. (A. M. Prokhorov General Physics Institute, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia) ,  Ryabova A. V. (A. M. Prokhorov General Physics Institute, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： LO  ページ： R3-43  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スペクトル範囲450~720nmにおける二光子共焦点顕微鏡を用いた単結晶および多結晶ZnSeの拡張欠陥のルミネセンスを研究した;,ZnSeの欠陥構造に及ぼすCrとFeドーピングの影響を調べた。ルミネセンスの地図は,深さ表面下3mmに達するのミクロスケール空間分解能で得られた。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *可視化 ,  多結晶 ,  クロム ,  *キャラクタリゼーション ,  *セレン化亜鉛 ,  鉄 ,  スペクトル ,  ルミネセンス ,  *結晶 ,  空間分解能 ,  単結晶 ,  *共焦点顕微鏡
準シソーラス用語： 欠陥構造 ,  拡張欠陥 ,  *二光子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： パターン認識  (JE07000S) ,  信号理論  (ND02020G) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  品質検査  (KB04020L)

タイトルに関連する用語 (7件)： 2光子 ,  共焦点顕微鏡 ,  ZnSe ,  結晶 ,  欠陥 ,  可視化 ,  特性化