文献

J-GLOBAL ID：201602252905986606   整理番号：16A0741949

選択多層遷移金属炭化物(MXenes)のX線光電子分光研究

X-ray photoelectron spectroscopy of select multi-layered transition metal carbides (MXenes)

著者 (11件)： Halim Joseph (Department of Materials Science & Engineering, Drexel University, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Halim Joseph (A.J. Drexel Nanomaterials Institute, Drexel University, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Halim Joseph (Thin Film Physics Division, Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, SE-583 31 Linkoping, Sweden) ,  Cook Kevin M. (Materials Engineering Division, Naval Air Systems Command, Patuxent River, MD 20670, USA) ,  Naguib Michael (Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  Eklund Per (Thin Film Physics Division, Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, SE-583 31 Linkoping, Sweden) ,  Gogotsi Yury (Department of Materials Science & Engineering, Drexel University, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Gogotsi Yury (A.J. Drexel Nanomaterials Institute, Drexel University, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Rosen Johanna (Thin Film Physics Division, Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, SE-583 31 Linkoping, Sweden) ,  Barsoum Michel W. (Department of Materials Science & Engineering, Drexel University, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Barsoum Michel W. (Thin Film Physics Division, Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, SE-583 31 Linkoping, Sweden)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 362  ページ： 406-417  発行年： 2016年01月30日 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近発見された二次元(2D)炭化物と窒化炭素の一群である選択MXenesに対する高分解能X線光電子分光(XPS)分析を報告する。それらの2D特性はもとより,それらの表面化学の理解は最重要である。スパッタ洗浄前後ならびに新たに作製したものに対する時効処理した多層冷間圧接ディスクの表面基を識別し,定量化した。ここで調べたMXenesの公称組成はTi₃C₂T_x,Ti₂CT_y,Ti₃CNT_x,Nb₂CT_xおよびNb₄C₃T_xである。ここでTはこの研究で定量化する表面基である。すべての例で,三種類の表面終端,-O,-OH,-Fの存在が,H₂O分子に比較的強く結合したOH-終端に加えて確認された。XPSピークあてはめから,前述のMXenesにおける終端の負電荷の平均総和を確立することができた。この研究に基づいて,今や,表面終端の定量化が可能である。この情報はさまざまな用途をもつこれらの新しい2d材料のより良い設計と誂えにも利用できる。Copyright 2016 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *炭化物 ,  炭素化合物 ,  *窒化物 ,  多層膜 ,  *二次元 ,  チタン化合物 ,  ニオブ化合物 ,  表面分析 ,  *X線光電子スペクトル ,  X線光電子分光法 ,  *表面 ,  *官能基分析 ,  *負電荷 ,  ヒドロキシ基
準シソーラス用語： ヒドロキシル基 ,  窒化炭素

著者キーワード (3件)： MXene ,  XPS ,  Metal carbides

分類 (2件)： 表面の電子構造  (BM02080J) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 多層 ,  遷移 ,  金属炭化物 ,  X線光電子分光 ,  研究