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J-GLOBAL ID：201602254177821867   整理番号：16A0694644

残響室における積層PCBの吸収断面積測定【Powered by NICT】

Absorption Cross Section measurement of stacked PCBs in a reverberation chamber

著者 (9件)： Parker S. L. (Department of Electronics, University of York, UK) ,  Flintoft I. D. (Department of Electronics, University of York, UK) ,  Marvin A. C. (Department of Electronics, University of York, UK) ,  Dawson J. F. (Department of Electronics, University of York, UK) ,  Bale S. J. (Department of Electronics, University of York, UK) ,  Robinson M. P. (Department of Electronics, University of York, UK) ,  Ming Ye (Research and Development Center, Huawei Technologies AB, Kista, Sweden) ,  Changyong Wan (Huawei Industrial Base, Huawei Technologies Co. Ltd., Shenzhen, China) ,  Mengze Zhang (Huawei Industrial Base, Huawei Technologies Co. Ltd., Shenzhen, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： APEMC  ページ： 991-993  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プリント回路基板(PCBs)の吸収断面積(ACS)は,PCBsが遮蔽された閉空間内の内部電磁(EM)場に影響し,エンクロージャ遮蔽有効性かを決定する手助けになる。人口密度の高い容器内積層PCBsは「影付け」影響による個々のPCBsの合計と同じACSを持たないかもしれない。本論文では積層PCBからACS測定結果を示した。結果は,PCBsを積層し,ACSを減少させ,この効果はより多くのPCBsのと共に増加することを示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： プリント基板 ,  *残響室 ,  ポリ塩化ビフェニル
準シソーラス用語： エンクロージャ ,  *吸収断面積 ,  *積層 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 残響室 ,  PCB ,  吸収断面積