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J-GLOBAL ID:201602255432614132   整理番号:16A0532753

相変化メモリ用途の熱安定性の高いSb-Te-Se複合膜

Sb-Te-Se composite film with high-thermal stability for phase-change memory application
著者 (10件):
資料名:
巻: 213  号:ページ: 127-132  発行年: 2016年01月 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 1862-6300  CODEN: PSSABA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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Sb2TeにSb2Se3をドープして作製した,適当な組成材料Sb44Te11Se45を持つSb-Te-Se三成分系の優れた熱安定性を示した。慣用のGe2Sb2Te5に比べ,Sb44Te11Se45膜は220°Cの高い結晶化温度,4.25eVの高い活性化エネルギー,10年間の超長時間データ保持期間を有し,これは優れた熱安定性を意味する。Sb2Se3ドーピングは結晶粒径を小さくできることが分かった。これはSb44Te11Se45が相変化メモリ(PCM)用途に適することを意味する。Sb44Te11Se45に基づくPCMセルでは,非晶質状態と結晶状態の電気抵抗率の比は最大二桁で,データ分解に十分である。熱安定性の観点から,Sb44Te11Se45複合膜は高温貯蔵用途の潜在的相変化材料であると思われる。Copyright 2016 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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記憶装置 

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