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J-GLOBAL ID：201602256688957001   整理番号：16A0972966

宇宙・惑星の起源を探るX線光学 小惑星微粒子の非破壊三次元内部観察を可能とするX線顕微CT技術

著者 (2件)： 土山明 (京大 大学院理学研究科) ,  上椙真之 (高輝度光科学研究セ)
資料名： 光学  (Japanese Journal of Optics)
巻： 45  号： 9  ページ： 347-354  発行年： 2016年09月10日 
JST資料番号： G0125B  ISSN： 0389-6625  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： JAXAの小惑星探査機「はやぶさ」は,小惑星イトカワより微粒子を地球に持ち帰った。地球外天体から採取された2番目の天体表土サンプルである。後継機「はやぶさ2」も小惑星に到着し,サンプルを採取した。本論文では,「はやぶさ」サンプル分析に利用された放射光X線顕微CT技術や,これによって得られた新たな知見について紹介した。サンプル分析におけるX線顕微CTの性能を述べ,X線顕微CTによる成果を示した。宇宙風化でできたブリスターとよばれる空隙が観察された。イトカワ表面上で粒子が回転していることを示している。次に,「はやぶさ2」サンプルでのX線CT観察を示した。結果として捕獲できたのは,微小な粒子だけであった。試料分析の問題点を示し,新しいX線CT手法の開発と今後の方針を示した。

シソーラス用語： 宇宙X線源 ,  *X線顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  *X線CT ,  非破壊検査 ,  内部構造 ,  三次元 ,  *小惑星 ,  *微粒子 ,  光学 ,  宇宙探査機 ,  科学衛星 ,  惑星探査 ,  シンクロトロン放射
準シソーラス用語： X線顕微鏡法 ,  X線光学 ,  イトカワ ,  はやぶさ【科学衛星】

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  天文学・天体物理学一般  (DB03000B)

引用文献 (34件)：

• A. Fujiwara et al.: Science, 312 (2006) 1330-1334.
• M. Yoshikawa, J. Kawaguchi, A. Fujiwara and A. Tsuchiyama: "Hayabusa sample return mission," Asteroids IV, eds. P. Michel et al. (Univ. of Arizona, Tucson, 2015) pp. 397-418.
• T. Nakamura et al.: Science, 333 (2011) 1113-1116.
• A. Tsuchiyama et al.: Science, 333 (2011) 1125-1128.
• A. Tsuchiyama: Elements, 10 (2014) 45-50.

タイトルに関連する用語 (9件)： 宇宙 ,  惑星 ,  起源 ,  X線光学 ,  小惑星 ,  微粒子 ,  観察 ,  X線 ,  CT