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J-GLOBAL ID：201602262912955106   整理番号：16A1267786

電圧電流特性によるパルス磁気絶縁同軸ダイオードにおける軸方向陰極プラズマ膨張速度の時間的進化に関するシミュレーション研究【Powered by NICT】

Simulative study on the temporal evolution of the axial cathode plasma expansion velocity in pulsed magnetically insulated coaxial diode through voltage-ampere characteristics

著者 (3件)： Zhu Danni (College of Optoelectric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, China) ,  Zhang Jun (College of Optoelectric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, China) ,  Zhong Huihuang (College of Optoelectric Science and Engineering, National University of Defense Technology, Changsha 410073, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： PIERS  ページ： 4512-4515  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： パルス磁気的に絶縁された同軸ダイオード(MICD)の電圧電流特性を介して軸陰極プラズマ膨張速度の時間発展を調べるために構築した縮小particle-in-cell(PIC)シミュレーションモデル。MICDのダイオード構造,電圧電流特性と陰極プラズマ膨張機構は平面ダイオードのそれより複雑であった。平面ダイオードとは異なり,軸方向プラズマ膨張速度はMICDに対して個々に調べることは困難である。本論文では,「V」形状プロファイルと時間平均速度の軸方向時間発展傾向は電圧電流特性曲線法,線形イオン密度法で確認されたにより研究した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： イオン密度 ,  *軸方向 ,  シミュレーションモデル ,  パルス ,  *プラズマ膨張 ,  *磁気 ,  シミュレーション ,  線形性 ,  *ダイオード ,  時間発展 ,  *電流電圧特性
準シソーラス用語： 平均速度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 信号理論  (ND02020G) ,  音響信号処理  (BB03050C)

タイトルに関連する用語 (11件)： 電圧電流特性 ,  パルス ,  磁気 ,  絶縁 ,  同軸 ,  ダイオード ,  陰極 ,  プラズマ ,  進化 ,  シミュレーション ,  研究