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J-GLOBAL ID：201602265541153495   整理番号：16A0586602

非線形光学材料の屈折率分布の時間依存性検出【Powered by NICT】

Time-Dependent Detection of the Refractive Index Distribution of Nonlinear Optical Materials
著者 (11件)：
Tengqian Sun

Tengqian Sun について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China について

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Qing Ye

Qing Ye について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China について

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Xiaowan Wang

Xiaowan Wang について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China について

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Jin Wang

Jin Wang について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China について

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Zhichao Deng

Zhichao Deng について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China について

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Shike Liu

Shike Liu について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China について

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Qilin Yang

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(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

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Jianchun Mei

Jianchun Mei について

(Adv. Technol. Inst., Nankai Univ., Tianjin, China)

Adv. Technol. Inst., Nankai Univ., Tianjin, China について

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Wenyuan Zhou

Wenyuan Zhou について

(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

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Chunping Zhang

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(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

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Jianguo Tian

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(Key Lab. of Weak-Light Nonlinear Photonics, Nankai Univ., Tianjin, China)

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資料名：
IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)

IEEE Photonics Technology Letters について


巻： 28  号： 3  ページ： 260-263  発行年： 2016年 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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屈折率分布(RID)測定は,試料の詳細なRI情報と欠陥を明らかにした。非線形光学材料の光-および熱誘起RI変化過程の時間依存検出を走査焦点屈折率顕微鏡(SFRIM)により定量的に研究した。光-および熱誘起RI変化は曲線あてはめによって区別することができた。著者らの方法は,従来のZ走査法,試料を横切る平均RI変化を測定のみと比較した。実験結果はSFRIMによるRIDの時間依存検出は非線形光学材料の研究に向けた新しい視点を提供できることを示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
シソーラス用語：
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顕微鏡

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*非線形光学

非線形光学 について

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*時間依存性

時間依存性 について

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曲線あてはめ

曲線あてはめ について

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走査

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*非線形光学材料

非線形光学材料 について

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*屈折率

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光学顕微鏡法

光学顕微鏡法 について

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*屈折率分布

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光熱効果

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Z走査法

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非線形光学

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分類
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(BD06030H)

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タイトルに関連する用語 (3件)：
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