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J-GLOBAL ID：201602271889375377   整理番号：16A0636579

10nmへの応用を用いた電圧スケーリングによる将来の技術ノードにおけるエネルギー低減【Powered by NICT】

Exploring Energy Reduction in Future Technology Nodes via Voltage Scaling with Application to 10nm

著者 (6件)： Yalcin Gulay ,  Rethinagiri Santhosh Kumar ,  Palomar Oscar ,  Unsal Osman ,  Cristal Adrian ,  Milojevic Dragomir
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： PDP  ページ： 184-191  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 計算機システムのエネルギー消費を削減するために,電圧および周波数ダウンスケーリングは良く知られた方式である。しかし,省エネルギーの量は最初の利用技術ノードに依存する。,電圧レベルは安全マージン以下である場合,命令を追加エネルギーオーバヘッド低電圧から期待されるエネルギー利得を無にする,を示すことができる電圧関連故障によるRe executedする必要がある。さらに,障害回復と周波数減少の両方は,アプリケーションの性能に影響を与える。本研究では,まずn10将来技術ノードでのいくつかのサブ回路(すなわち機能ユニット)の誤り率を評価した。性能への影響を低減するために,著者らは公称電圧レベルにおける静止系の周波数を保つ,微細粒度で各サブ回路の電圧と周波数を減少させた。このようにして,アウトオブオーダアーキテクチャにおける命令レベル並列性は比較的遅い機能単位の性能への影響を覆い隠すことができる。著者らの評価によれば,機能ユニットのエネルギー消費は僅か8%の性能劣化を92%まで減少させることができる。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 応用プログラム ,  省エネルギー ,  *電圧 ,  周波数 ,  誤り率 ,  計算機システム ,  障害回復 ,  エネルギー消費
準シソーラス用語： 性能劣化 ,  細粒度 ,  エネルギー利得 ,  低電圧 ,  利用技術 ,  ダウンスケーリング ,  *電圧スケーリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 応用 ,  電圧スケーリング ,  ノード ,  エネルギー