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J-GLOBAL ID：201602272022369138   整理番号：16A0696170

テスト環境生成結果に基づく階層的可試験性のためのスケジューリング法【Powered by NICT】

A scheduling method for hierarchical testability based on test environment generation results

著者 (3件)： Nishimaki Jun (Graduate School of Industrial Technology, Nihon University, Chiba, JAPAN) ,  Hosokawa Toshinori (College of Industrial Technology, Nihon University, Chiba, JAPAN) ,  Fujiwara Hideo (Faculty of Informatics, Osaka Gakuin University, JAPAN)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ETS  ページ： 1-2  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 階層テスト容易化バインディング法は,行動レベル回路[2]を用いた階層的試験における試験可能な演算器の数を増加させることが提案されている。は階層テスト生成法を用いて生成したテスト系列によって試験しうる多くの操作ユニットを合成することを目的とした。本論文では,結合法[2]の効率を増加させるための階層的可試験性のためのスケジューリング手法を提案する。実験結果は筆者らの提案したスケジューリング法の組み合わせと結合法[2]は,階層的試験における平均11%故障検出率を改善することを示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 故障検出 ,  *スケジューリング ,  演算器 ,  *可試験性
準シソーラス用語： テスト生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： テスト ,  環境 ,  可試験性 ,  スケジューリング