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J-GLOBAL ID：201602275681486959   整理番号：16A0787491

Zピンチ実験の多数のレーザ差分干渉とシャドウイメージング診断システムに用いた【JST・京大機械翻訳】

Multiframe Laser Differential Interferometer and Shadowgraph System for Z-Pinch Experiments

著者 (6件)： Chen Guanghua (Institute of Fluid Physics, Chinese Academy of Engineering Physics) ,  Dan Jiakun (Institute of Fluid Physics, Chinese Academy of Engineering Physics) ,  Liu Jun (Institute of Fluid Physics, Chinese Academy of Engineering Physics) ,  Lei Jiangbo (Institute of Fluid Physics, Chinese Academy of Engineering Physics) ,  Huang Xianbin (Institute of Fluid Physics, Chinese Academy of Engineering Physics) ,  Li Jianfeng (Institute of Fluid Physics, Chinese Academy of Engineering Physics)
資料名： Zhongguo Jiguang  (Zhongguo Jiguang)
巻： 42  号： 12  ページ： 1208007-1-1208007-6  発行年： 2015年 
JST資料番号： C5022A  ISSN： 0258-7025  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 1つの角スペクトル分離に基づく全光フレーミング方式の多数のレーザ差分干渉と陰影の画像診断システムを開発し,1回の実験において2~4、3~12幅間隔NSの高精細な影画像をあるいは干渉画像を撮影できる,そして4/差分干渉計構造を結合する,大密度勾配特徴を有するZなどピンチプラズマの電子密度用の高時空分解能診断。PTS(PRIMARY TEST STAND)装置の柱状単殻層WuSi陣Zピンチ実験において,1の配列等はプラズマ影画像爆縮速度、圧縮比、磁瑞利泰勒(MRT)不安定性演化過程などの観測結果を与えた。早期ワイヤアレイを,XP-1パルスパワー装置の平面細線アレイ実験において得られたインターフェログラムと電子密度の計算結果および進化場合アブレーション段階のプラズマ分布を与えた。Data from the ScienceChina, LCAS.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アブレーション ,  爆縮 ,  画像 ,  電子密度 ,  *干渉 ,  細線 ,  分解能 ,  干渉計 ,  プラズマ ,  *Zピンチ
準シソーラス用語： インターフェログラム ,  パルスパワー ,  干渉画像 ,  *診断システム ,  *差分 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： imaging systems ,  plasma diagnostic ,  multi-frame interferometer ,  frame image ,  Z-pinch ,  electron density

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： Zピンチ ,  実験 ,  レーザ ,  差分 ,  干渉 ,  診断システム