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J-GLOBAL ID：201602276953718852   整理番号：16A1286217

積層結晶シリコン太陽電池における亀裂に及ぼす応力/歪の影響の研究:PVモジュール産業へのシンクロトロン施設のドアを開く【Powered by NICT】

Studying the impact of stress/strain on cracks in laminated crystalline silicon cells: Opening the doors of synchrotron facilities to the PV module industry

著者 (4件)： Colli Alessandra (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY, USA) ,  Attenkofer Klaus (Brookhaven National Laboratory, Upton, NY, USA) ,  Raghothamachar Balaji (Stony Brook University, Stony Brook, NY, USA) ,  Dudley Michael (Stony Brook University, Stony Brook, NY, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： PVSC  ページ： 2643-2646  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,積層太陽電池モジュール内の細胞に影響を及ぼす欠陥,応力と歪の直接画像化と分析のためのシンクロトロンX線トポグラフィーの能力を示し,議論した。Brookhaven国立研究所NSLS IIで行った初期シンクロトロン実験とアルゴンヌ国立研究所の先進Advanced Photon Sourceで実行,トポグラフィーキャンペーンの結果を示し,考察する。モジュールパッケージの細胞に影響する結晶粒界と歪からの割れ発生は明確に市販単細胞ミニモジュールのX線トポグラフで明らかにされた も参照セルとして知られている。この実験を用いて,シンクロトロン施設の利用は全PVモジュール構造の非破壊分析のための有望であることを実証した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： モジュール構造 ,  *太陽電池 ,  亀裂発生 ,  非破壊分析 ,  *亀裂 ,  X線トポグラフィー ,  X線 ,  *シンクロトロン ,  結晶粒界
準シソーラス用語： 単一細胞 ,  画像化 ,  *結晶シリコン太陽電池 ,  *積層 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 音声処理  (JE05000E) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (11件)： 結晶シリコン太陽電池 ,  亀裂 ,  応力 ,  歪 ,  研究 ,  PV ,  モジュール ,  産業 ,  シンクロトロン ,  施設 ,  ドア