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J-GLOBAL ID：201602279391637831   整理番号：16A0956135

高圧の物質密度に対して診断のX線レーザ写真撮影の最適化設計の【JST・京大機械翻訳】

Optimization design of laser X-ray radiography for density diagnosis in compressed matter

著者 (6件)： Zhang Tiankui (Science and Technology on Plasma Physics Laboratory, Laser Fusion Research Center, China Academy of Engineering Physics) ,  Han Dan (Science and Technology on Plasma Physics Laboratory, Laser Fusion Research Center, China Academy of Engineering Physics) ,  Wu Yuchi (Science and Technology on Plasma Physics Laboratory, Laser Fusion Research Center, China Academy of Engineering Physics,IFSA Collaborative Innovation Center) ,  Yan Yonghong (Science and Technology on Plasma Physics Laboratory, Laser Fusion Research Center, China Academy of Engineering Physics) ,  Zhao Zongqing (Science and Technology on Plasma Physics Laboratory, Laser Fusion Research Center, China Academy of Engineering Physics) ,  Gu Yuqiu (Science and Technology on Plasma Physics Laboratory, Laser Fusion Research Center, China Academy of Engineering Physics,IFSA Collaborative Innovation Center)
資料名： Wuli Xuebao  (Wuli Xuebao)
巻： 65  号： 4  ページ： 045203-01-045203-10  発行年： 2016年 
JST資料番号： B0628A  ISSN： 1000-3290  CODEN： WLHPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： レーザ衝撃波を駆動する高圧の物質状態を提供できる,状態方程式研究の重要なツールである。超短超強レーザと固体ターゲットとの相互作用により発生したX線源は,短パルス,、ミニフォーカス、高収量、エネルギー可変などの特徴を持ち,高圧物質密度測定の第一選択はバックライト源である。本論文では,に基づいてモンテカルロプログラムGEANT4X線撮影モデルを確立して,ゲストの密度分布を流体力学プログラムMULTI-1Dでレーザ負荷物質を得る高圧衝撃をシミュレーションした。1次元直方体形密度ゲストの場合,2乗平均平方根とピーク偏差、上昇勾配に沿って3種の指標により,写真画像から求めた密度の結果を定義し評価を行い,撮影結果の信号対雑音比とコントラスト分解能などのパラメータを最適化を行った。そして1次元円筒形の密度オブジェクトの撮影シミュレーションを展開し,RADON変換(IFFT)に基づくABEL反転アルゴリズムを確立した。インバージョンの結果と設計シミュレーションの密度分布は,良好なX線源半径が5ΜM以内で要求に合致する,;インバージョンの結果と設計シミュレーションの密度分布は比較的一致し,X線源の半径が15ΜM以内で要求される。Data from the ScienceChina, LCAS.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線源 ,  *X線レーザ ,  密度分布 ,  状態方程式 ,  実効値 ,  *最適化 ,  *レーザ ,  写真像 ,  *最適設計 ,  円筒 ,  衝撃 ,  *高圧 ,  SN比 ,  バックライト ,  一次元

著者キーワード (3件)： laser plasma ,  X-ray radiography ,  density inversion

分類 (3件)： プラズマ中の電磁波  (BJ02032F) ,  X線技術  (BA02060D) ,  スペクトル計測及びスペクトロメータ  (AD08030U)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高圧 ,  物質 ,  密度 ,  診断 ,  X線レーザ ,  写真撮影 ,  最適化設計