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J-GLOBAL ID:201602284433843530   整理番号:16A0655178

高強度でのAlGaN/GaN HEMTによるテラヘルツ検出【Powered by NICT】

Terahertz detection by AlGaN/GaN HEMTs at high intensity
著者 (10件):
資料名:
巻: 2016  号: MIKON  ページ: 1-3  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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AlGaN/GaN HEMT低および高強度のTHz放射への光応答について報告した。応答対ゲートバイアス依存性を放射強度の全範囲におけるDyakonov-Shurの理論によって記述できることを示した。光応答対強度の異常な挙動は,レーザ照射下で観察された:反応,続いて飽和の二次増加。はこの現象がAlGaNまたはバッファ層におけるトラップによる捕獲ホットエレクトロンによって説明できることを推測した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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