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J-GLOBAL ID：201602285811923067   整理番号：16A0655334

ホットキャリア劣化モデリングに基づくCMOSインバータの劣化解析のためのソフトウェアツール【Powered by NICT】

A software tool for aging analysis of the CMOS inverter based on hot carrier degradation modeling

著者 (4件)： Messaris I. (Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece) ,  Goudos S. K. (Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece) ,  Nikolaidis S. (Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece) ,  Dimitriadis C. A. (Department of Physics Aristotle, University of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： MOCAST  ページ： 1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ホットキャリアの存在は,正常回路動作下でのFD-SOIとFinFETデバイスの特性に影響することが一連の物理的過程を誘発することを明らかにした。これらの効果は累積的に長期間,時間とともに時代に回路を引き起こし,最終的に回路故障につながる可能性があることを性能劣化をもたらした。本論文では,設計におけるデバイスのHC誘起劣化を定量できることをソフトウェアツールを用いたHC効果に取り組む,さらに対応する回路の寿命を予測した。グラフィカルユーザインタフェイス(GUI)を提示し,ツール操作の例を示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *モデリング ,  *支援プログラム ,  GUI【計算機】 ,  *ホットキャリア
準シソーラス用語： 性能劣化 ,  FinFET ,  *CMOSインバータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 無線通信一般  (ND08010L) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (5件)： ホットキャリア ,  モデリング ,  CMOSインバータ ,  解析 ,  ソフトウェアツール