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J-GLOBAL ID：201602288371311380   整理番号：16A1285829

ポテンシャル誘起劣化回復挙動を考慮した寿命保証試験法【Powered by NICT】

Lifetime warranty test method considering potential induced degradation recovery behavior

著者 (4件)： Kang Kyungchan (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea) ,  Kim Byongsu (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea) ,  Park Sanghwan (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea) ,  Chang Sungho (LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： PVSC  ページ： 0894-0898  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年高電位で運転したPVモジュールのいくつかの破壊モードが観察された。最も支配的な劣化機構は結晶PVモジュールの「電位誘起劣化(PID)」は,[1]と呼ばれている。IECワーキンググループによって提案されたようなPID試験は特定のモジュールに反映していない。その結果,それらは寿命保証試験[2]の要求を満たしていない。特に,太陽電池の回復特性を反映しない。本研究では,n型単結晶太陽電池の回復特性を考慮した寿命試験法に焦点を当てた。電位誘起出力低下に関するモジュールの感度は,照明下の回復挙動に関して研究した。地盤を正だけでなく負の電位を考察した。試験は二つの部分に分割した。最初に,IEC TS62804年に従って行ったPID試験1法。,特別なPID/光回復シーケンスを行った。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 寿命試験 ,  結晶 ,  照明 ,  *電位 ,  太陽電池 ,  破壊モード ,  単結晶 ,  ポテンシャル
準シソーラス用語： 劣化機構 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (7件)： ポテンシャル ,  誘起 ,  回復 ,  挙動 ,  寿命 ,  保証 ,  試験法