特許

J-GLOBAL ID：201603003781268909

瞬間加熱によるイオン化装置、質量分析計、質量分析システム及びイオン化方法

発明者： 杉山 清隆 ,  高村 禅
出願人/特許権者： 国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学
代理人 (1件)： 海野 徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-039745
公開番号（公開出願番号）：特開2016-162570
出願日： 2015年03月02日
公開日（公表日）： 2016年09月05日
要約：

【課題】 小型、安価で、イオン化効率が高く且つ質の良いマススペクトルを得られるイオン化装置、質量分析計及びイオン化方法を提供する。【解決手段】 本発明のイオン化装置は、微小領域を瞬間加熱することにより、当該微小領域に隣接して均一に塗布若しくは保持した試料をイオン化する。そして、イオン化及び脱離を補助するマトリックスを試料に予め混合するか、試料と同時に塗布若しくは保持するか、又は試料に次いで塗布若しくは保持する。 例えば、微小電極からなるヒータを試料の直下に形成して試料を瞬間的に電流で加熱する方式を採用し得る。そして、分析しようとする微小領域に瞬間的に大きなエネルギーを供給してイオン化する。微小電極上への試料薄膜形成技術を開発したことで、レーザーに勝る単位面積当たりのエネルギーを、効率的に試料全体に短時間で伝達できる。また、適したマトリックス材量を選ぶことにより、1価のイオンが高い効率で得られる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

微小領域を瞬間加熱する加熱手段を備えており、当該微小領域に隣接して均一に塗布若しくは保持した試料をイオン化することを特徴とするイオン化装置。

IPC (3件)：

H01J 49/10 ,  H01J 49/04 ,  G01N 27/64

FI (3件)：

H01J49/10 ,  H01J49/04 ,  G01N27/64 Z

Fターム (9件)：

2G041CA01 ,  2G041DA01 ,  2G041EA01 ,  2G041GA17 ,  2G041JA07 ,  2G041JA08 ,  5C038EE02 ,  5C038EF17 ,  5C038GG13