特許
J-GLOBAL ID：201603007503688170

火炎中の粒子の撮像方法および撮像装置

発明者：
泰中 一樹

泰中 一樹 について

, 
橋本 望

橋本 望 について

, 
范 勇

范 勇 について


出願人/特許権者：
一般財団法人電力中央研究所

一般財団法人電力中央研究所 について


代理人 (1件)： 栗原 浩之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-119044
公開番号（公開出願番号）：特開2015-232474
出願日： 2014年06月09日
公開日（公表日）： 2015年12月24日
要約：
【課題】 火炎中の粒子であっても明瞭な粒子像を得ることができる火炎中の粒子の撮像方法および撮像装置を提供する。【解決手段】 パルスレーザ光源から火炎8中の粒子1に向けてパルスレーザ光を照射し、パルスレーザ光の照射と同期してシャッター9を開くとともに、レーザLの波長のみをバンドパスフィルタ10で選択してカメラ3に入射して粒子1を撮像する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光源から火炎中の粒子に向けて光を照射し、前記光の照射と同期してシャッターを開くとともに、前記光源の波長のみをバンドパスフィルタで選択して撮像手段に入射することにより前記粒子をシャドウ法により撮像することを特徴とする火炎中の粒子の撮像方法。
IPC (2件)：
G01N 15/02 ,  G01P 5/20
FI (2件)：
G01N15/02 B ,  G01P5/20 F
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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