半導体回路の電流測定装置

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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：加藤久 , 久保山隆
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-215005
公開番号（公開出願番号）：特開2013-076569
特許番号：特許第5846421号
出願日： 2011年09月29日
公開日（公表日）： 2013年04月25日
請求項（抜粋）：

【請求項1】測定電流から生じる磁束を検出する磁束検出装置と、前記磁束検出装置の出力電圧を電流波形に変換する積分装置と、前記積分装置によって変換された電流波形を視覚化する電流波形観測装置とを有し、前記磁束検出装置は、回路基板の両面にそれぞれ複数ターンの導電パターンにより形成した一対の表裏対称な形状をした第1コイルと、かつ測定配線を配置する位置に対して前記第1コイルと線対称に第2コイルを配置し、前記第1コイルおよび前記第2コイルのそれぞれの表の巻き終わりの導電パターンと裏の巻き始めの導電パターンの端部間、および前記第1コイルの裏側の巻き終わりの導電パターンの端部と前記第2コイルの表側の巻き始めの導電パターンの端部間とを、それぞれ前記回路基板を貫通するスルーホールにより接続した構造とした電流測定装置。

IPC (1件)：

G01R 15/18 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01R 15/18 A

引用特許：

出願人引用 (6件)

電流センサ及び電力量計
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-053436 出願人：富士電機システムズ株式会社
特許第6965225号
特許第6177806号

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審査官引用 (6件)

特許第6177806号
密着固定型近磁界プローブ
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-321803 出願人：株式会社リコー
パルス電流の検出方法及びパルス電流電源装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-273423 出願人：株式会社日立製作所, 独立行政法人日本原子力研究開発機構

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