特許
J-GLOBAL ID：201603014068568813
金属イオンの検出方法、被検物質の検出方法、電極基板および検出キット
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-009793
公開番号（公開出願番号）：特開2016-133465
出願日： 2015年01月21日
公開日（公表日）： 2016年07月25日
要約：
【課題】試料における金属イオンまたは被検物質の濃度が低い場合であっても、S/N比が大きく、濃度と金属イオンまたは被検物質に対応するシグナルとの関係の直線性が優れる金属イオンまたは被検物質の検出手段を提供する。【解決手段】作用電極と対極とを含む電極基板の作用電極上への金属の析出または被検物質と金属粒子とを含む複合体の固定化を行なう。作用電極に酸化電位を印加して金属イオンを生成した後、作用電極における酸化電位を印加した部分の面積よりも小さい面積を有する部分に還元電位を印加して還元電位を印加した部分の表面に金属を析出させ、析出させた金属に起因する電流、電圧または電荷を測定し、金属イオンまたは被検物質を検出する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
作用電極と対極とを含む電極基板の作用電極の表面に、被検物質と金属粒子とを含む複合体を固定化する固定化工程、
前記作用電極に酸化電位を印加することにより、前記作用電極に固定化された複合体中の金属粒子から金属イオンを生成させるイオン化工程、
前記作用電極における酸化電位を印加した部分の面積よりも小さい面積を有する部分に還元電位を印加することにより、前記金属イオンから生成する金属を、前記還元電位を印加した部分の表面に析出させる析出工程、および
前記析出工程で析出させる金属に起因する電流、電圧または電荷を測定する測定工程、
を含む被検物質の検出方法。
IPC (3件)：
G01N 27/48
, G01N 27/327
, G01N 27/416
G01N27/48 311
, G01N27/30 351
, G01N27/30 357
, G01N27/46 386G
, G01N27/46 336G
, G01N27/46 336B
