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J-GLOBAL ID:201702212257698133   整理番号:17A0697386

PINアモルファスシリコン薄膜太陽電池のためのn型層としてPをドープしたけい素に富むSiN_x膜の微細構造と光電的性質【Powered by NICT】

Microstructure and photoelectric properties of P-doped silicon-rich SiNx film as an n-type layer for PIN-type amorphous silicon thin film solar cells
著者 (8件):
資料名:
巻: 144  ページ: 808-817  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0099A  ISSN: 0038-092X  CODEN: SRENA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,シリコンリッチSiN_SiCx:H薄膜中に埋め込まれたりんをドープしたシリコンナノ結晶を,高周波プラズマ増強化学蒸着法を用いて作製した,SiH_4,pH_3,H_2とNH_3混合物であった。微細構造及びnc-Si:H膜の光電特性に及ぼす窒素混入の影響を系統的に調べた。Ramanと透過型電子顕微鏡観察が,窒素の導入がSiナノ結晶の成長を阻害し,それらのサイズと密度は,取込流量比NH_3/(SiH_4+H_2+pH_3)を変えることによって調整できるであろうことを明らかにした。調製した膜の電気伝導率の屈折率と改善の減少は,窒素不純物の増加と共に観察され,流量比が0.02の時,最大伝導率が得られた。さらに,Pをドープしたnc SiN_SiCx:H膜は非晶質シリコン薄膜太陽電池用のn型層として用いて,その効率を最適化し,流量比が0.02の時,高い曲線因子(0.624)と効率(9.26%)を持つ太陽電池が得られた。結果として,適切な窒素取り込みとPをドープしたnc SiN_SiCx:H膜は薄膜太陽電池の性能を効率的に改善することができた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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太陽電池 

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