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J-GLOBAL ID：201702212794357440   整理番号：17A0379511

データマイニング応用を統合したIoTに触発された半導体信頼性試験システム【Powered by NICT】

An IoT inspired semiconductor Reliability test system integrated with data-mining applications

著者 (8件)： Tang Tyler Junyao (Quality and Reliability Engineering, Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China) ,  Chung Andrew (Quality and Reliability Engineering, Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China) ,  Zhao Atman (Quality and Reliability Engineering, Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China) ,  Kang Randy (Quality and Reliability Engineering, Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China) ,  Zhang Mark (Quality and Reliability Engineering, Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China) ,  Chien Kary (Quality and Reliability Engineering, Semiconductor Manufacturing International Corporation, Shanghai, China) ,  Jungang Yang (Institute of Intelligent Manufacturing and Information Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China) ,  Jie Zhang (Institute of Intelligent Manufacturing and Information Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： CCIOT  ページ： 111-114  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 信頼性評価は製品の品質を確保する上で重要なステップである。半導体技術が発展を続けるのに従い,信頼性テスト工程も複雑にする,異なる試験タスクに関与する技術者と技術アシスタント。本論文では,オンライン試験要求,データベース管理と試験データ解析を統合した包括的な信頼性管理と信頼性指数システムの設計を提案した。さらに,システムによって収集された得られたビッグデータは新しい信頼性データ解析アプローチの潜在的データマイニング応用を活気づける。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *半導体 ,  *信頼性試験 ,  データ解析 ,  技術者 ,  *データマイニング ,  *信頼性 ,  品質
準シソーラス用語： ビッグデータ ,  信頼性管理 ,  試験データ ,  データベース管理 ,  オンライン ,  半導体技術 ,  信頼性評価 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： その他の情報処理  (JE15050M)

タイトルに関連する用語 (5件)： データマイニング ,  応用 ,  統合 ,  IoT ,  信頼性試験