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J-GLOBAL ID：201702215110441111   整理番号：17A0348030

低_2混合ガスのグロー放電数値シミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Numerical Simulation of He/N_2 Mixture Glow Discharge at Low Pressure

著者 (6件)： Zou Xiaobing (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University) ,  Yang Xinting (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University) ,  Fu Yangyang (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University) ,  Luo Haiyun (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University) ,  Yang Shuo (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University) ,  Wang Xinxin (Department of Electrical Engineering, Tsinghua University)
資料名： Gaodianya Jishu  (Gaodianya Jishu)
巻： 42  号： 12  ページ： 3741-3746  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2121A  ISSN： 1003-6520  CODEN： GAJIE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 低窒素含有量(10(-6)~10(-4))のヘリウムのグロー放電特性を研究し,対応する二次元流体モデルを確立して,基本的物理的方程式を,有限要素法によって解いた。放電電圧と内部物理パラメータの空間分布を得て,低気圧でのヘリウムグロー放電に及ぼす窒素不純物含有量の影響を分析した。研究結果は以下を示す。不純物含有量の増加に伴い,窒素分子と窒素原子の定常状態原子の脱イオン化過程は絶縁破壊電圧を低下させるため,空隙維持電圧が低下し,回路電流が上昇する。また,イオンイオン化は放電により多くの電子を提供するため,電子数密度の上昇,電界強度の低下,電子温度の低下をもたらした。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *グロー放電 ,  不純物 ,  電界強度 ,  空間分布 ,  有限要素法 ,  電子温度 ,  ヘリウム ,  *混合気体 ,  窒素 ,  二次元 ,  数密度
準シソーラス用語： 絶縁破壊電圧 ,  定常状態 ,  放電電圧 ,  *数値シミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： helium glow discharge at low pressure ,  low temperature plasma ,  Penning ionization ,  nitrogen impurity ,  glow discharge cleaning

分類 (1件)： 気体放電  (BJ03020T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 混合ガス ,  グロー放電 ,  数値シミュレーション