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J-GLOBAL ID：201702215191968197   整理番号：17A0482588

先進光源における高効率その場共鳴非弾性X線散乱(iRIXS)エンドステーション

High-efficiency in situ resonant inelastic x-ray scattering (iRIXS) endstation at the Advanced Light Source

著者 (24件)： Qiao Ruimin (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Li Qinghao (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Zhuo Zengqing (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Sallis Shawn (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Fuchs Oliver (Universitaet Wuerzburg, Experimentelle Physik 7, 97074 Wuerzburg, Germany) ,  Blum Monika (Department of Chemistry and Biochemistry, University of Nevada, Las Vegas (UNLV), Las Vegas, Nevada 89154-4003, USA) ,  Weinhardt Lothar (Department of Chemistry and Biochemistry, University of Nevada, Las Vegas (UNLV), Las Vegas, Nevada 89154-4003, USA) ,  Heske Clemens (Department of Chemistry and Biochemistry, University of Nevada, Las Vegas (UNLV), Las Vegas, Nevada 89154-4003, USA) ,  Pepper John (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Jones Michael (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Brown Adam (Engineering Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720, USA) ,  Spucces Adrian (Engineering Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720, USA) ,  Chow Ken (Engineering Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720, USA) ,  Smith Brian (Engineering Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720, USA) ,  Glans Per-Anders (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Chen Yanxue (School of Physics, National Key Laboratory of Crystal Materials, Shandong University, Jinan 250100, People’s Republic of China) ,  Yan Shishen (School of Physics, National Key Laboratory of Crystal Materials, Shandong University, Jinan 250100, People’s Republic of China) ,  Pan Feng (School of Advanced Materials, Peking University Shenzhen Graduate School, Shenzhen 518055, People’s Republic of China) ,  Piper Louis F. J. (Department of Materials Science and Engineering, Binghamton University, Binghamton, New York 13902, USA) ,  Denlinger Jonathan (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Guo Jinghua (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Hussain Zahid (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Chuang Yi-De (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA) ,  Yang Wanli (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, Berkeley, California 94720, USA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 88  号： 3  ページ： 033106-033106-8  発行年： 2017年03月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二台の高効率軟X線スペクトログラフを持つエンドステーションを,Lawrence Berkeley国立研究所の先進光源の,ビームライン8.0.1で開発した。エンドステーションは軟X線吸収分光法,放射分光法及び特に共鳴非弾性軟X線散乱(RIXS)を行う能力がある。二台の無スリット可変線間隔格子スペクトログラフを,異なる検出形状で設置する。エンドステーションは80から1500eVまでの光子エネルギー範囲をカバーする。遷移金属酸化物を研究するために,大きい検出エネルギー窓は,OのK端からNiのL端までにわたるエネルギーでのX線放射スペクトルの同時収集を,いかなる機械部品も動かさずに可能にする。記録高効率は包括的二次元RIXSマップの記録を,良い統計で短い取得時間内に可能にする。スペクトログラフの大きいエネルギー窓と高いスループットのおかげで,部分蛍光収率及び逆部分蛍光収率信号を,Mnを含む全遷移金属L端について得ることができた。さらにこれら二台のスペクトログラフの異なる形状(ビームラインの水平偏光に平行及び垂直)は,二つの異なる運動量移動についてRIXSの特徴にコントラストを与える。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線散乱 ,  共鳴散乱 ,  非弾性散乱 ,  効率 ,  軟X線 ,  *分光写真器 ,  X線吸収分光法 ,  発光分光法 ,  酸化物 ,  遷移金属化合物
準シソーラス用語： スペクトログラフ

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高効率 ,  共鳴非弾性X線散乱 ,  ステーション