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J-GLOBAL ID：201702215566592383   整理番号：17A0054806

過渡的および間欠的故障を考慮した動的Bayesネットワークに基づく故障診断方法論【Powered by NICT】

A Dynamic-Bayesian-Network-Based Fault Diagnosis Methodology Considering Transient and Intermittent Faults

著者 (3件)： Cai Baoping (College of Mechanical and Electronic Engineering, China University of Petroleum, Qingdao, China) ,  Liu Yu (Department of Systems Engineering and Engineering Management, City University of Hong Kong, Hong Kong) ,  Xie Min (Department of Systems Engineering and Engineering Management, City University of Hong Kong, Hong Kong)
資料名： IEEE Transactions on Automation Science and Engineering  (IEEE Transactions on Automation Science and Engineering)
巻： 14  号： 1  ページ： 276-285  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1406A  ISSN： 1545-5955  CODEN： ITASC7  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 複雑な電子システムの過渡故障(TF)及び間欠故障(IF)は診断が困難である。電子製品の性能は経時的に劣化したので,故障診断の結果は,与えられた同一の故障徴候のための異なる時間で異なる可能性がある。電子システムのためのTFとIFの存在下で動的Bayesネットワーク(DBN)をベースにした故障診断方法を提案した。DBNは電子製品の動的劣化プロセスをモデル化するために使用されており,Markov連鎖を用いて,四つの状態,すなわち,断層,TF,IF,永久故障の遷移関係をモデル化しないことである。故障診断方法は故障成分を同定し,故障タイプを識別することができる。天才モジュラー冗長制御システムの四故障診断例はこの方法の適用性を実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 制御系 ,  適応性 ,  *故障診断 ,  モデリング ,  電子装置 ,  Markov連鎖 ,  *故障
準シソーラス用語： 電子製品 ,  過渡故障 ,  *動的Bayesネットワーク , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  その他のシステムプログラミング  (JD03070M)

タイトルに関連する用語 (5件)： 間欠 ,  故障 ,  動的Bayesネットワーク ,  故障診断 ,  方法論