文献

J-GLOBAL ID：201702216478780676   整理番号：17A0357288

べき関数モデルの下での一定寿命試験のノンパラメトリックBAYES解析【JST・京大機械翻訳】

Nonparametric Bayesian Analysis of the Constant Stress Accelerated Life Test with Power Function Model

著者 (4件)： Liu Bin (Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University) ,  Shi Yimin (Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University) ,  Cai Jing (Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University) ,  Wang Ruibing (Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University)
資料名： Yingyong Gailv Tongji  (Yingyong Gailv Tongji)
巻： 32  号： 6  ページ： 617-631  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2472A  ISSN： 1001-4268  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 線形加速モデルは定常応力加速寿命試験の統計分析によく用いられ、実際と完全に一致しない。本論文では、べき関数の加速モデルを構築し、異なる定常加速応力レベル間の寿命値の関係を示し、最小二乗法を用いて加速モデルのパラメータ及び特徴ベクトルのベクトルを推定し、異なる応力レベル間の寿命データの相互転換を実現した。DIRICHLETプロセスの事前知識を用いて,完全データと打ち切りデータの下で,信頼性関数の事後分布とノンパラメトリックBAYES推定を得て,事後推定の一貫性を証明した。最後に,金属酸化物半導体の静電容量寿命の事例により,このモデルの有効性を示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 相互変換 ,  *ノンパラメトリック法 ,  金属酸化物 ,  最小二乗法 ,  線形性 ,  半導体 ,  静電容量 ,  ベクトル ,  *寿命試験 ,  統計解析
準シソーラス用語： 事後分布 ,  事前知識 ,  特徴ベクトル ,  加速劣化試験 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： constant stress accelerated life test ,  power function ,  nonparametric Bayes ,  Dirichlet process ,  censoring data

分類 (1件)： 数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (4件)： モデル ,  寿命試験 ,  ノンパラメトリック ,  解析