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J-GLOBAL ID：201702216789539590   整理番号：17A0124498

HLS-IIでの可視シンクロトロン放射を用いた横方向ビームサイズ測定システム【Powered by NICT】

Transverse beam size measurement system using visible synchrotron radiation at HLS II

著者 (9件)： Tang Kai (University of Science and Technology of China) ,  Sun Baogen (University of Science and Technology of China) ,  Yang Yongliang (University of Science and Technology of China) ,  Lu Ping (University of Science and Technology of China) ,  Tang Leilei (University of Science and Technology of China) ,  Wu Fangfang (University of Science and Technology of China) ,  Cheng Chaocai (University of Science and Technology of China) ,  Zheng Jiajun (University of Science and Technology of China) ,  Li Hao (University of Science and Technology of China)
資料名： Chinese Physics C  (Chinese Physics C)
巻： 40  号： 9  ページ： 097002-1-097002-07  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2118A  ISSN： 1674-1137  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 干渉計システムと可視シンクロトロン放射(SR)を用いたイメージングシステムは,Hefei光源(HLS)IIストレージリングに設置された。これら二つの系のシミュレーションは,シンクロトロン放射ワークショップ(SRW)コードを用いて示した。これら二つの系を用いて,ビームエネルギーが普及しビームエミッタンスを測定することができる。これら二システムと測定法の詳細な記述を示した。ビームサイズ,エミッタンスとエネルギー広がりの測定結果を最後に示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 光源 ,  ストレージリング ,  干渉計 ,  エミッタンス ,  *シンクロトロン放射 ,  *計測システム
準シソーラス用語： イメージングシステム ,  *ビームサイズ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： HLS II ,  干渉計 ,  ビームプロファイル ,  ビームエネルギー広がり ,  ビームエミッタンス

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  光学情報処理  (BD03060T)

タイトルに関連する用語 (5件)： HLS ,  シンクロトロン放射 ,  横方向 ,  ビームサイズ ,  測定システム