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J-GLOBAL ID：201702217519142446   整理番号：17A0020728

大量生産のための100Gb/s光相互接続デバイスのための光/電気試験システム【Powered by NICT】

An Optical/Electrical Test System for 100-Gb/s Optical Interconnection Devices for High Volume Production

著者 (7件)： Mizushima Takeshi ,  Shirahata Kazuki ,  Fujibe Tasuku ,  Matsumura Hidenobu ,  Watanabe Daisuke ,  Mineo Hiroyuki ,  Masuda Shin
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ATS  ページ： 130  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 100Gb/s光相互接続デバイスは,大規模データセンタにおける広く利用されていることが期待される。これらの光学素子の生産性を改善するために,本論文では,28Gb/s光学的および電気的両界面の車線を備えた試験溶液を提案した。デバイスを試験するためにこれらの高速ポートに加えて,試験溶液は,100,000回以上の反復プラグ/unplug操作のための安定で再現性のある挿入損失を提供するデバイス固定具技術を含んでいる。試験溶液は大量生産における高速光相互接続デバイス試験に適用することができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 光学素子 ,  プラグ ,  界面 ,  再現性 ,  *電気試験 ,  高速度 ,  挿入損 ,  ポート ,  *大量生産 ,  固定具
準シソーラス用語： *光インターコネクション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  符号理論  (ND02030R) ,  音声処理  (JE05000E) ,  移動通信  (ND08030H)

タイトルに関連する用語 (2件)： 光相互接続 ,  電気試験