Mao Haiyang について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, No. 3 Bei-Tu-Cheng West Road, Beijing 100029, PR China について
Huang Chengjun について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, No. 3 Bei-Tu-Cheng West Road, Beijing 100029, PR China について
Wu Wengang について
National Key Laboratory of Science and Technology on Micro/Nano Fabrication, Institute of Microelectronics, Peking University, No. 5 Yiheyuan Road, Beijing 100871, PR China について
Xue Mei について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, No. 3 Bei-Tu-Cheng West Road, Beijing 100029, PR China について
Yang Yudong について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, No. 3 Bei-Tu-Cheng West Road, Beijing 100029, PR China について
Yang Yudong について
National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, North University of China, No. 1 Xueyuan Road, Taiyuan 030051, PR China について
Xiong Jijun について
National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, North University of China, No. 1 Xueyuan Road, Taiyuan 030051, PR China について
Ming Anjie について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, No. 3 Bei-Tu-Cheng West Road, Beijing 100029, PR China について
Wang Weibing について
Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, No. 3 Bei-Tu-Cheng West Road, Beijing 100029, PR China について
Wang Weibing について
Kunshan MicroOptic Electronic Co., Ltd, No.145 Daqiao Road, Zhouzhuang, Kunshan, 215325, PR China について
Applied Surface Science について
再現性 について
重合 について
Raman強度 について
表面増強Raman散乱 について
プラズマ重合 について
プラズマ について
相対標準偏差 について
大面積 について
ナノコーン について
ナノフォレスト について
表面増強Raman散乱(SERS)デバイス について
プラズマ再重合技術 について
ウエハレベル作製 について
相対標準偏差 について
熱電子放出,電界放出 について
固体デバイス製造技術一般 について
半導体薄膜 について
表面増強Raman散乱 について
プラズマ について
重合法 について
コーン について
ウエハレベル について
作製 について