文献
J-GLOBAL ID:201702221071036789   整理番号:17A0414624

EV/HEVsのためのGaNH EMT及びSi MOSFET電力変換器のコモンモード電磁干渉特性に関する事例研究【Powered by NICT】

A Case Study on Common Mode Electromagnetic Interference Characteristics of GaN HEMT and Si MOSFET Power Converters for EV/HEVs
著者 (4件):
資料名:
巻:号:ページ: 168-179  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2449A  ISSN: 2332-7782  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
広バンドギャップ半導体,窒化ガリウム(GaN)ベースのパワーデバイスなどは,それらの低いオン状態抵抗と高速スイッチング能力のために自動車産業においてますます一般的になってきた。これらのデバイスは,自動車応用のためのパワーエレクトロニクス変換器におけるシリコン(Si)デバイスの変更が求められている。GaNデバイスは,各スイッチング事象中のより少ないエネルギーを消費し,このようにして,GaNコンバータ設計者はスイッチング損失を増加させることなくスイッチング周波数を増加させ,Si変換器と比較して有意にできる。しかし,関心事の一つは,増加したスイッチング速度に起因して,GaNデバイスの高いdv/dtは電力変換器の電磁干渉(EMI)放出を悪化させる可能性がある,車両に対応する規制を失敗する可能性があることである。これらの影響を理解するために,本論文では,同期ブーストモードで動作するGaNベースハーフブリッジ構成のスイッチング特性とコモンモード(CM)雑音発生に関する実験的事例研究を提示する。スイッチング電圧波形,漏れ電流,及びCM雑音スペクトルの観点から選択したGaN高電子移動度トランジスタ(HEMT)とSi MOSFETの間行った包括的比較。GaNH EMTとノーマリーオフ型Si MOSFETのゲート抵抗を増加させるパラメータにより,変換器効率とCM騒音発生の間のトレードオフも定量化した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
移動通信  ,  信号理論  ,  専用演算制御装置 

前のページに戻る