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J-GLOBAL ID:201702221078187023   整理番号:17A0164261

Zピンチ診断装置のための快閥の開発【JST・京大機械翻訳】

Development of Fast Shutter for Diagnosis System in Z-pinch Experiment
著者 (4件):
資料名:
巻: 50  号: 10  ページ: 1897-1901  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2078A  ISSN: 1000-6931  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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Zピンチ実験の後期に負荷された微小破片とその他のスパッタ物質がZZの診断システム内の光学部品を汚染するため、本論文では電磁誘導原理に基づく快閥を開発し、それは微小破片とその他のスパッタ物質の遮断に用いることができる。エネルギー保存と回路方程式に基づいて,快閥の運動速度,遮断時間,およびコイル放電電流を計算し,実験結果により,快閥の速度は19M/Sであり,遮断時間のジッタは85ΜSであり,実験結果は計算結果とよく一致することを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
著者キーワード (4件):
分類 (9件):
分類
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光デバイス一般  ,  流体の実験・試験・測定方法及び装置  ,  システム設計・解析  ,  周波数変換回路  ,  通信方式一般  ,  流体動力学一般  ,  非線形光学  ,  信号理論  ,  固体デバイス製造技術一般 
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タイトルに関連する用語
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