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J-GLOBAL ID:201702221271878278   整理番号:17A0759453

InAlNにおけるガリウムの取込室設計と歴史,成長圧力の効果の役割【Powered by NICT】

Gallium incorporation in InAlN: role of the chamber design and history, and the effects of growth pressure
著者 (9件):
資料名:
巻: 214  号:ページ: ROMBUNNO.201600441  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 1862-6300  CODEN: PSSABA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,二つの反応器を用いた有機金属気相エピタクシー(MOVPE)により成長させたInAlN層中のガリウムの非意図的な取り込みを調べた。原子間力顕微鏡(A FM)および電子分散X線分光法(EDS)は,表面形態とInAl(Ga)N/GaN構造の原子組成を特性化した。水平チャンバーは系統的純三元層を産生したが,緊密結合シャワーヘッド垂直チャンバーは四元合金につながる可能性がある。後者のエピ層中のガリウムの量を1%にした。量ガリウムを低減する代替法を示した:典型的に約80Torr中間成長圧力の使用は,ガリウムの包含を低下する6%であった。このような量のGaの存在下では,成長過程は修正されると思われる,それらの取り込みのためのInとGaの間の競合が,Al組成を系統的に減少させた。層の厚さが増加すると,層の形態も影響を受け,可能な三次元成長モードに対する大きなと閉じた溝の形成を伴うことが観察された。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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トランジスタ  ,  半導体薄膜 

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