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J-GLOBAL ID:201702221781255190   整理番号:17A0452543

n型結晶シリコン(111)ウエハ上の直接電気化学的ナノインプリントリソグラフィー【Powered by NICT】

Electrochemical nanoimprint lithography directly on n-type crystalline silicon (111) wafer
著者 (24件):
資料名:
巻: 75  ページ: 1-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1133A  ISSN: 1388-2481  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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Pt/Si/electrolyte三相界面での自発的なレドックス反応を報告し,熱可塑性および光硬化レジストを必要としない結晶Siウエハ上にナノインプリントリソグラフィーのための電気化学的方法を提案した。Pt金属インプリントモールドをn型Si(111)ウエハ上に圧縮すると,電子は,それらの異なる電子仕事関数のためにPtとn型Siからであろう。平衡では,各相中の電子のFermi準位は等しくなる,電場およびPt/Si界面での接触可能性をもたらした。電解質溶液に浸漬すると,Pt/電解質界面とSi/電解質界面の電位が反対方向にシフトすることが観測された。過酸化水素はPt表面上に自然に還元される。一方,Si中の電子がPtにトンネルし,残留正孔が三相界面に沿ったSiを酸化する。このようにして,Pt金属インプリント鋳型上のミクロ/ナノ構造をSiウエハに転写した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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電極過程 
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