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J-GLOBAL ID:201702221876340908   整理番号:17A0302072

準二重層表面電極イオントラップのための半解析的モデル【Powered by NICT】

Semi-analytical model for quasi-double-layer surface electrode ion traps
著者 (3件):
資料名:
巻: 25  号: 11  ページ: 113701_01-113701_06  発行年: 2016年 
JST資料番号: W1539A  ISSN: 1674-1056  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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スケール量子プロセッサを実現するために,表面電極イオントラップは有効スケーリング法,singlelayer,二重層,および準二重層トラップを含んでいる。トラップ中心とトラップ深さのような重要なトラップパラメータを計算するために,有限要素法(FEM)シミュレーションを,しかし,それは常に時間がかかり広く使用されている。さらに,FEMシミュレーションは,形状寸法とこれらのパラメータの間の直接的関係を示すことができないである。問題を解決以上のために,住宅とMadsenらはそれぞれ単層トラップと二重層トラップのための解析モデルを提供した。本論文では,準二重層トラップのための半解析的モデルを提案した。このモデルはトラップ設計プロセスにおけるイオントラップの重要なパラメータを計算するために適用することができた。このモデルを用いて,種々のケースにおけるトラップ電極の最適形状設計を見出す迅速かつ正確にできる。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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数値計算  ,  電動機 
タイトルに関連する用語 (5件):
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