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J-GLOBAL ID:201702222719084339   整理番号:17A0175960

EAST装置Hモード時の電子輸送係数【JST・京大機械翻訳】

Electron Thermal Conductivity in H-mode in EAST
著者 (4件):
資料名:
巻: 42  号:ページ: 730-736  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2920A  ISSN: 1006-3080  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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先進実験トカマク(EAST)において,高拘束モード(Hモード)放電のプラズマ中の電子輸送を,低クラッタ(LHW)とイオンサイクルRF(ICRF)加熱により実現した。計算によると,HモードはLモード(低拘束モード)に比べて電子輸送係数が顕著に低下し,特にプラズマ端部においては。。典型的炮号(33068#, #,40823#)において,正規化温度勾配特性長(R_(TE))の閾値は3であるべきである。11.この三の拘束時間は電子輸送係数と相関し,電子輸送係数が大きいほど拘束時間は小さい。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
著者キーワード (3件):
分類 (2件):
分類
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プラズマ平衡・閉込め  ,  核融合装置 
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