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J-GLOBAL ID：201702224159945011   整理番号：17A1449653

組込み自己診断向けのテストパターン生成法

著者 (4件)： 松田優大 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  WANG S. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.10-7  発行年： 2017年09月16日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *BIST ,  *診断 ,  *製造 ,  *発生 ,  故障診断 ,  故障検出 ,  感度 ,  性能 ,  能力
準シソーラス用語： *自己診断 ,  *テストパターン生成 ,  検出能力

分類 (1件)： 電子回路一般  (NC05010N)

タイトルに関連する用語 (3件)： 組込み ,  自己診断 ,  テストパターン生成