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J-GLOBAL ID:201702224498254706   整理番号:17A0697729

多孔質シリコンの内部および外部表面の選択的特性化のための角度分解XPS【Powered by NICT】

Angle resolved XPS for selective characterization of internal and external surface of porous silicon
著者 (7件):
資料名:
巻: 406  ページ: 144-149  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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多孔質シリコンの外部/内部細孔表面の選択的官能化は,この材料の多くの潜在的応用のために関心事である,特に薬理学において顕著であった。水環境と両立する多孔質シリコンプラットフォームを得ると水溶性分子を不十分に疎水性細孔を提供する目的で,外部表面の選択エッチングによって分離された二つのヒドロシリル化反応から成る三段階官能化手順を組み立てた。この手順は,多孔質層と多孔質微粒子に適用した。接触角とFTIRのような通常の技術によって官能化された試料の特性化は,期待される表面改質と一致して多孔質構造の特性の変化を示した。しかし,これらの手法は内部と外部グラフト化官能基の間の区別を明瞭にできない。この理由のために,角度分解XPSに基づく革新的な手順を設定と異種官能化したpSi層に適用した。本手法により,外部表面に親水性部分のグラフト化と細孔内の疎水性の指標を得た。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
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固-液界面  ,  蛋白質・ペプチド一般  ,  固体デバイス製造技術一般  ,  有機化合物の薄膜 
タイトルに関連する用語 (5件):
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