特許マッピングのための技術距離の測定【Powered by NICT】

Yan Bowen; Luo Jianxi

文献

J-GLOBAL ID：201702225142941037 整理番号：17A0751943

特許マッピングのための技術距離の測定【Powered by NICT】

Measuring technological distance for patent mapping

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資料名：
巻： 68 号： 2 ページ： 423-437 発行年： 2017年
JST資料番号： A0274A ISSN： 2330-1635 CODEN： AISJB6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

情報科学文献における最近の研究は,技術分野のネットワークマップ,競争力のある情報解析と革新意思決定を支援する目的を構築するために特許データベースと特許分類情報を用いた例を示した。このような特許ネットワークの構築特許分類システムにおける異なるクラス特許間の距離の適切な測定を必要とする。文献で種々の距離測度が存在するにもかかわらず,一貫してそれらを評価し,比較する方法,とするものは特許技術ネットワークマップを構築するための選択は不明である。このあいまいさのため,このような技術マップの開発と応用を制限している。代替距離測度を比較し,得られた特許ネットワークマップの構造特性の相違点と類似点を解析することにより優れたものを同定するために提案した。1976年から2006年までの米国特許データと国際特許分類(IPC)システムを用いて,12種の代表的な距離測度,フィールド間知識ベース近接,革新剤の分野交差多様化尤度または周波数,同じ特許の特許クラスの共起を定量化を比較した。著者らの比較解析は,正規化された同一指示と発明者多様化尤度測度に基づく特許技術ネットワークマップは,最良の代表であることを示唆する。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

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