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J-GLOBAL ID：201702226661006574   整理番号：17A0267820

太陽電池試験システムの設計【JST・京大機械翻訳】

Solar Cell Test System Design

著者 (2件)： Li Buyin (School of Optical and Electronic Information,Huazhong University of Science and Technology) ,  Liu Yongwei (School of Optical and Electronic Information,Huazhong University of Science and Technology)
資料名： Yibiao Jishu yu Chuanganqi  (Yibiao Jishu yu Chuanganqi)
号： 11  ページ： 73-76  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2449A  ISSN： 1002-1841  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 太陽電池試験装置の巨大な容量と価格のために,組込み技術に基づく太陽電池試験システムを設計した。システムはSTM32をメインチップとし、電圧、電流、放射線、温度収集モジュール、シリアル通信モジュール及び表示モジュールなどを配合し、次に数学モデルを構築し、MATLABでフィッティングし、I-V曲線を得て、太陽電池の特性パラメータの測定を完成した。結果は以下を示す。測定した特性パラメータと標準値の比較により,太陽電池の開回路電圧の精度は1%であり,短絡電流の精度は2.84%であることを示した。システムの精度は約3%で,標準偏差は小さく,設計したシステムのデータの変動は小さく,システムの安定性は良好であることが分かった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 試験装置 ,  短絡電流 ,  放射線 ,  標準偏差 ,  規格値 ,  電圧 ,  数学モデル ,  *太陽電池 ,  電流
準シソーラス用語： 開回路電圧 ,  特性パラメータ ,  MATLAB ,  シリアル通信 ,  組込み技術 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： solar cell ,  STM32 ,  fitting algorithm ,  I-V curve

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 太陽電池 ,  試験システム ,  設計