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J-GLOBAL ID：201702226879697836   整理番号：17A0730099

光熱反射技術測定表面におけるマイクロスケール熱構造を測定した。【JST・京大機械翻訳】

MEASUREMENT UNDER SURFACE MICRO SCALE HEAT STRUCTURE BY PHOTO THERMOREFLECTANCE TECHNIQUE

著者 (4件)： BU Wen-Feng (Institute of Engineering Thermophysics, CAS) ,  ZHENG Xing-Hua (Institute of Engineering Thermophysics, CAS) ,  TANG Da-Wei (Institute of Engineering Thermophysics, CAS) ,  ZHANG Qi (Climaveneta Chatunion Refrigeration Equipment (Shanghai) Co., Ltd.)
資料名： Gongcheng Rewuli Xuebao  (Gongcheng Rewuli Xuebao)
巻： 30  号： 1  ページ： 118-120  発行年： 2009年 
JST資料番号： C2102A  ISSN： 0253-231X  CODEN： KCJPDF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 周期的半導体レーザを熱源とし、連続半導体レーザーをプローブ光とし、光学顕微鏡対物レンズを集光し、定常の光熱反射検出技術を用いて、表面温度応答に対応する周期反射信号を得て、5~10ミクロン解像度の実験室用テストシステムを構築した。リソグラフィーの形式を利用して、金属表面に埋め込まれたSIマトリクス中のSIO_2の図形を作成し、それぞれ異なる周波数で一次元スキャンを行い、適切な周波数でれるの情報を得て、メータの簡単な構造複合材料の熱構造測定を実現した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 熱応答 ,  集光 ,  *熱的構造 ,  分解能 ,  プローブ ,  周波数 ,  *熱反射 ,  光学顕微鏡 ,  一次元 ,  検出法 ,  半導体レーザ ,  リソグラフィー ,  対物レンズ ,  走査
準シソーラス用語： *マイクロスケール , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： photo thermoreflectance technique ,  micro scale heat structure ,  under surface

分類 (1件)： 信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (2件)： マイクロスケール ,  熱構造