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J-GLOBAL ID：201702228047811471   整理番号：17A0401872

わずかに軸外反射点回折干渉計を用いた干渉位相差顕微鏡法【Powered by NICT】

Interferometric phase microscopy using slightly-off-axis reflective point diffraction interferometer

著者 (6件)： Bai Hongyi (College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, Heilongjiang 150001, PR China) ,  Zhong Zhi (College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, Heilongjiang 150001, PR China) ,  Shan Mingguang (College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, Heilongjiang 150001, PR China) ,  Liu Lei (College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, Heilongjiang 150001, PR China) ,  Guo Lili (College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, Heilongjiang 150001, PR China) ,  Zhang Yabin (College of Information and Communication Engineering, Harbin Engineering University, Harbin, Heilongjiang 150001, PR China)
資料名： Optics and Lasers in Engineering  (Optics and Lasers in Engineering)
巻： 90  ページ： 155-160  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0602B  ISSN： 0143-8166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 干渉位相差顕微鏡法(IPM)は,定量的位相イメージングのための僅かに軸外反射点回折干渉計を提案した。二ミラーから成る再帰反射器を用いて,物体ビームと参照ビームの間の角度を生成することであり,45°傾斜偏光ビームスプリッタを用いて両ビームの水平と垂直成分を分離した。π/2位相シフトと二キャリア干渉縞をワンショットで得ることができる,薄い試験片の相分布は高速再構成法を用いて検索できる。入力面場の利用を損なうことなく新しいIPMはわずかにオフ軸法に関連する実時間と最適化検出器の帯域幅測定の利点,共通光路幾何学に関連した高い安定性,手順と装置の簡単さを組み合わせた。実験を行い,提案手法の有効性と安定性を実証するために,静的および動的両方の試料について行った。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *干渉計 ,  再構成 ,  帯域幅 ,  干渉縞 ,  *干渉 ,  試験片 ,  最適化 ,  位相シフト ,  高速度
準シソーラス用語： 光路 ,  実時間 ,  偏光ビームスプリッタ ,  再帰反射器 ,  位相イメージング ,  *位相差顕微鏡法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 干渉位相差顕微鏡法 ,  僅かに沖軸 ,  反射点回折 ,  位相シフト

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 回折 ,  干渉計 ,  干渉 ,  位相差顕微鏡法