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J-GLOBAL ID：201702228389903921   整理番号：17A0404080

Ge Se Te Bi系におけるガラス転移と結晶化に及ぼすテルルの影響【Powered by NICT】

Impact of tellurium on glass transition and crystallization in the Ge-Se-Te-Bi system

著者 (6件)： Yin Haiwei (School of Materials Science and Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai 200237, China) ,  Li Lei (School of Materials Science and Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai 200237, China) ,  Liu Yinyao (Key Laboratory of Materials for High Power Laser,Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS, Shanghai 201800, China) ,  Hu Lili (Key Laboratory of Materials for High Power Laser,Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS, Shanghai 201800, China) ,  Zeng Huidan (School of Materials Science and Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai 200237, China) ,  Chen Guorong (School of Materials Science and Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai 200237, China)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 43  号： 4  ページ： 3556-3561  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ge_20Se_67 xTe_xBi_13(x=0~0 5 10 15および20mo1%)の組成を持つ試料を調製し,それらの特性をXRD,Raman分光法およびDSCであった。XRDパターンとRamanスペクトルはSeのTeの置換による構造ネットワークの変化との関連におけるガラス転移と結晶化の一貫した証拠を示した。熱電(TE)結晶の析出はTe含有量の増加につれてBi_2SeTe_2(BTS)相にBi_2Se_2Te(BST)からの進化を経験する。五種の加熱速度で行った示差走査熱量測定(DSC)データに基づいて,結晶化速度論をKissinger,Ozawaモデル及びAugis-Bennett近似を用いて解析した。異なる方法は特徴的な活性化エネルギー(E)の同一評価を示し,頻度因子(K)及びAvrami指数(n)の付加的パラメータであるAB法で得られる。特に,計算されたEおよびK_はTeによるSeの置換したターゲットTE BST結晶相の結晶化過程は非常に増強されたが,望ましくないGeSe_2相のそれはわずかに妨げられていることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 示差走査熱量測定 ,  X線回折 ,  頻度因子 ,  *ガラス転移 ,  晶析速度 ,  Raman分光法 ,  *結晶 ,  *結晶化 ,  Ramanスペクトル ,  加熱速度 ,  *テルル ,  活性化エネルギー ,  *セレン
準シソーラス用語： 結晶相 ,  Avrami指数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： カルコゲン化物ガラス ,  熱電結晶 ,  結晶化速度論

分類 (2件)： ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z) ,  ガラスの製造  (YC02020O)

タイトルに関連する用語 (7件)： Ge ,  Se ,  Te ,  Bi ,  ガラス転移 ,  結晶化 ,  テルル