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J-GLOBAL ID：201702229109931106   整理番号：17A0664886

多重ノズルエミッタアレイエレクトロスプレイイオン化Fourier変換イオン移動度分光分析【Powered by NICT】

Fourier transform ion mobility spectrometry with multinozzle emitter array electrospray ionization

著者 (5件)： Shen Hongling (College of Life Science, Tarim University, Alar, Xinjiang 843300, China. [e-mail]) ,  Jia Xu ,  Meng Qingyan ,  Liu Wenjie ,  Hill Herbert H.
資料名： RSC Advances (Web)  (RSC Advances (Web))
巻： 7  号： 13  ページ： 7836-7842  発行年： 2017年 
JST資料番号： U7055A  ISSN： 2046-2069  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Fourier変換イオン移動度分光分析(FT IMS)は同期矩形波チャープを用いたイオン電流を変調することで,入口と出口イオンゲートを用いた場合のIMSのデューティサイクル(DC)を改善する1~25%に有用な多重化法である。感度をさらに改善するために,本論文では,多重エミッタアレイエレクトロスプレイイオン化と結合した周波数変調単一ゲートIMSシステムを用いたFT IMSの性能を調べた。信号雑音比,分解能,直線範囲と検出限界は種々のテトラアルキルアンモニウム塩を用いて評価した。結果は雑音比の改善4 6倍まで顕著なシグナルは,単一エレクトロスプレイ針で達成された上での多重エミッタアレイを用いた達成可能であることを示した。種々のテトラアルキルアンモニウムイオンの検出限界は平均4倍減少し,信号平均化法に比べて改善されたスペクトル品質を示した。多エミッタアレイエレクトロスプレイイオン化は,イオン強度を効果的に改善し,Fourier変換IMSは,デューティサイクルを50%改善し,さらに信号を改善した対雑音比。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 分解能 ,  *多重化 ,  性能評価 ,  検出限界 ,  矩形波 ,  周波数変調 ,  *エレクトロスプレイイオン化 ,  チャープ ,  SN比 ,  *Fourier変換 ,  雑音 ,  イオン電流 ,  イオン強度
準シソーラス用語： *エレクトロスプレイ ,  デューティサイクル ,  *イオン移動度分光分析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 一成分系の相平衡・状態図  (CB03013K) ,  分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  分子の電子構造  (BH05010Q) ,  電解質水溶液  (CB05020K) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 多重 ,  Fourier変換 ,  イオン移動度分光分析