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J-GLOBAL ID:201702230834822519   整理番号:17A0697332

薄膜光起電力デバイスの最適化のための統計モデリングアプローチ【Powered by NICT】

A statistics modeling approach for the optimization of thin film photovoltaic devices
著者 (7件):
資料名:
巻: 144  ページ: 232-243  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0099A  ISSN: 0038-092X  CODEN: SRENA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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高度に関連したエネルギー市場に対処するための優れた性能と能力を持つ,n-i-pシリコン太陽電池のような低コストデバイスを作製するための薄膜技術の探索における関心の高まりは,その製造プロセスの最適化を開発の重要な領域。含まれるパラメータの通常の一次元解析は,困難であり,条件の最適集合を見つけること時間消費となる。これらの困難を克服するために,実験計画法と統計解析の組合せが,製造上のパラメータと期待される実験的アウトプットの間の相互作用を多次元的に調査するためにツールを提供する。実験と多変量解析の設計の最適化のためのここで実証した。(1)高品質真性非晶質シリコン(i a Si:H)の低温堆積(150°C)(2)n ,i,およびp型けい素層厚さのマッチングとは,薄膜太陽電池の効率を最大化する。分散分析を通して検証し,正確な数値シミュレーションに対する評価,応用された多重回帰法は,全体的な真性層特性とデバイス性能を予測することを示した。結果は実験設計と統計的データ解析は,最小時間枠と高い確実性で,改良シリコン薄膜の性質,続いて太陽電池の層構造に有効なアプローチであることを確認した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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太陽電池 
タイトルに関連する用語 (5件):
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