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J-GLOBAL ID：201702233312661937   整理番号：17A0400024

LHDにおけるHe照射に曝露されたタングステンの微細構造に及ぼす温度の影響【Powered by NICT】

Temperature impact on the micro structure of tungsten exposed to He irradiation in LHD

著者 (7件)： Bernard Elodie (National Institute for Fusion Science, Toki, Gifu, 509-5292, Japan) ,  Sakamoto Ryuichi (National Institute for Fusion Science, Toki, Gifu, 509-5292, Japan) ,  Tokitani Masayuki (National Institute for Fusion Science, Toki, Gifu, 509-5292, Japan) ,  Masuzaki Suguru (National Institute for Fusion Science, Toki, Gifu, 509-5292, Japan) ,  Hayashi Hiromi (National Institute for Fusion Science, Toki, Gifu, 509-5292, Japan) ,  Yamada Hiroshi (National Institute for Fusion Science, Toki, Gifu, 509-5292, Japan) ,  Yoshida Naoaki (Research Institute for Applied Mechanics, Kyushu University, Kasuga, Fukuoka, 816-8580, Japan)
資料名： Journal of Nuclear Materials  (Journal of Nuclear Materials)
巻： 484  ページ： 24-29  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0148A  ISSN： 0022-3115  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい温度制御材料プローブはLHDにおけるヘリウムプラズマにタングステン試料の曝露のために設計した。試料は~10~23m~ 2の推定フルエンス及び65から600°Cの温度範囲に曝露した。透過型電子顕微鏡分析は,実際のプラズマ曝露条件における初めてのタングステン微細構造に及ぼす高温下でのHe照射の影響の研究を可能にした。転位ループと気泡の両方は,低から中温度から出現し,サイズ(4~6倍)の印象的な増加を見た温度は600°Cに達する,気泡成長のしきい値として現れる500°Cとして恐らく合体。800Cまでの試料のアニーリングは高表面温度でのヘリウム照射で形成された転位損傷の安定性を強調し,気泡と転位ループは,それらの特性を保存するために考えられた。断面に関するさらなる研究は,気泡は激しく損傷表面層(10 20 nm)よりもより厚い(70 100 nm)形成され,水素同位体の材料の機械的性質の保存とポテンシャル余分の捕獲に及ぼす影響への関心を高めることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 透過型電子顕微鏡 ,  *タングステン ,  気泡 ,  表面温度 ,  プラズマ曝露 ,  中温 ,  表層 ,  高温 ,  温度制御 ,  気泡成長 ,  *ヘリウム ,  水素同位体 ,  転位ループ ,  焼なまし
準シソーラス用語： ヘリウムプラズマ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 金属の放射線による構造と物性の変化  (BK16122N)

タイトルに関連する用語 (5件)： LHD ,  He ,  曝露 ,  タングステン ,  微細構造