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J-GLOBAL ID：201702235280442699   整理番号：17A0530812

画像特徴に基づく平面二次元寸法計測システム【JST・京大機械翻訳】

Two-dimensional size measurement system based on image feature

著者 (5件)： Wei Ye (School of Engineering Science,University of Science and Technology of China) ,  Jin Yi (School of Engineering Science,University of Science and Technology of China) ,  Yuan Jiafa (School of Engineering Science,University of Science and Technology of China) ,  Feng Wei (School of Engineering Science,University of Science and Technology of China) ,  Wei Shen (School of Engineering Science,University of Science and Technology of China)
資料名： Jixie Sheji  (Jixie Sheji)
巻： 33  号： 12  ページ： 1-5  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2054A  ISSN： 1001-2354  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 部品の平面の二次元特性における画像処理の応用価値を分析し、大型工作物の二次元平面特徴の測量対象に対して、画像特徴識別に基づく非接触光学寸法測定システムを設計した。格子構造分割処理の画像モザイク法を用いて,測定範囲を拡張し,大規模な特徴を完全に収集した。キャリブレーション法とカメラキャリブレーション法を用いて,測定システムの機械的装置と光学系の誤差を低減し,測定精度を改善した。二次元平面のキー特性解析に基づき,サブピクセル精度を向上させるためにサブ画素処理を使用することによって,最終的測定精度はマイクロメータに達することができる。実験結果は,このシステムの画像モザイク精度が0.8ΜMであり,測定精度が5ΜM以上であることを示した。このシステムは画像処理が工業上の大型工作物の寸法測定における応用開発に有効な基礎方法を提供した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 画像処理 ,  画素 ,  格子構造 ,  *画像特性 ,  測定精度 ,  工作物 ,  マイクロメータ ,  *二次元 ,  性能分析 ,  *計測システム
準シソーラス用語： サブピクセル ,  カメラキャリブレーション ,  画像モザイク ,  寸法測定 ,  非接触 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： measurement system ,  feature recognition ,  image stitching ,  sub-pixel processing ,  image processing

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： 画像特徴 ,  寸法計測システム