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J-GLOBAL ID：201702235387330983   整理番号：17A0015372

微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について

Design of TDC Embedded in Scan FFs for Testing Small Delay Faults

著者 (3件)： 河塚信吾 (徳島大 大学院先端技術科学教育部) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院理工学研究部) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院理工学研究部)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 331(DC2016 38-63)  ページ： 105-110  発行年： 2016年11月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 半導体製造技術の向上により,回路の遅延時間がわずかにシフトする微小遅延故障がタイミング不良として顕在化している。微小遅延故障は経年劣化により誤動作の原因となる可能性があるため検査手法が求められている。過去に,パスの遅延故障を検出するため,TDC(Time-to-Digital Converter)を用いた微小遅延測定用回路が提案されている。本稿ではTDCを用いた回路の改良のため,被検査回路内のスキャンFFにTDCを組込んだ回路の設計を行い,シミュレーションによる遅延検出能力評価を行う。(著者抄録)

シソーラス用語： *故障 ,  試験 ,  走査 ,  *双安定回路 ,  *信号変換器 ,  回路設計 ,  性能 ,  遅れ
準シソーラス用語： *遅延故障 ,  テスト ,  スキャン ,  *フリップフロップ ,  *時間ディジタル変換器 ,  検出能力 ,  遅延 ,  スキャン設計

分類 (2件)： その他の電子回路  (NC05090X) ,  信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (7件)： 微小 ,  遅延故障 ,  テスト ,  TDC ,  組込み ,  スキャンFF ,  設計