Ferrah D. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Ferrah D. について
CEA, LETI, Minatec Campus, F-38054, Grenoble, France について
Ferrah D. について
LTM-CNRS, Minatec Campus, F-38054, Grenoble, France について
Renault O. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Renault O. について
CEA, LETI, Minatec Campus, F-38054, Grenoble, France について
Petit-Etienne C. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Petit-Etienne C. について
LTM-CNRS, Minatec Campus, F-38054, Grenoble, France について
Okuno H. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Okuno H. について
INAC-CNRS, Minatec Campus, F-38054, Grenoble, France について
Berne C. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Berne C. について
Institut Neel, CNRS-UJF, BP 166, 38042, Grenoble cedex 9, France について
Bouchiat V. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Bouchiat V. について
Institut Neel, CNRS-UJF, BP 166, 38042, Grenoble cedex 9, France について
Cunge G. について
Univ. Grenoble Alpes, F-38000, Grenoble, France について
Cunge G. について
LTM-CNRS, Minatec Campus, F-38054, Grenoble, France について
Surface and Interface Analysis について
グラフェン について
光電子分光法 について
放出形顕微鏡 について
仕事関数 について
表面分析 について
浄化 について
エッチング について
表面 について
電気材料 について
光電子顕微鏡 について
電子材料 について
dry-cleaning について
graphene について
photoelectron spectroscopy について
photoemission electron microscopy について
work function について
固体の表面構造一般 について
固体デバイス製造技術一般 について
グラフェン について
H2 について
誘導結合プラズマ について
クリーニング について
XPS について
研究 について