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J-GLOBAL ID：201702236026601540   整理番号：17A0471203

空気中の走査型Kelvinプローブ顕微鏡を用いた銀ナノ平板におけるファセット方位の検出【Powered by NICT】

Sensing the facet orientation in silver nano-plates using scanning Kelvin probe microscopy in air

著者 (7件)： Abdellatif M.H. (Department of Nanostructures, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy) ,  Abdellatif M.H. (Physics Department, National Research Center, Elbehoos st., 12622, Dokki, Giza, Egypt) ,  Salerno M. (Department of Nanophysics, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy) ,  Polovitsyn Anatolii (Department of Nanochemistry, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy) ,  Polovitsyn Anatolii (Dipartimentodi Fisica, Universita di Genova, via Dodecaneso 33, I-16146 Genova, Italy) ,  Marras Sergio (Department of Nanochemistry, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy) ,  De Angelis Francesco (Department of Nanostructures, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 403  ページ： 371-377  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノ材料の仕事関数はそれらの電子特性の完全な特性評価のために重要である。バンド整列,バンドの曲がりと電子雑音である仕事関数変動に非常に敏感であるので,ファセット方位に及ぼすナノスケール結晶の仕事関数の依存性は,これらの材料に基づく光電子デバイスの最適化における重要な課題である。走査型Kelvinプローブ顕微鏡を用いてサブミクロン空間分解能での銀ナノプレートの試料の局所仕事関数を評価した。基板の適切な選択と統計的解析に基づいて,測定は真空を使用しない環境条件で行った場合でも,銀ナノプレートの異なるファセットの表面電位を区別することができた。現象論的モデルは,銀ナノプレートのファセット仕事関数とFermi準位の対応するシフトの差を計算した。この理論的予測と銀ナノプレート上の表面電位で実験的に観察された差異は良く一致した。著者らの結果は,環境条件で基板の適切な選択によりナノ結晶ファセットを検出する可能性を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 最適化 ,  仕事関数 ,  Fermi準位 ,  空間分解能 ,  キャラクタリゼーション ,  *ファセット ,  ナノ結晶 ,  *銀 ,  表面電位 ,  ナノ材料
準シソーラス用語： 環境条件 ,  ナノプレート ,  光電子デバイス ,  ナノスケール ,  *Kelvinプローブ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： ナノ結晶 ,  ファセット ,  仕事関数 ,  表面電位 ,  走査Kelvinプローブ顕微鏡

分類 (3件)： 光化学一般  (CB08010U) ,  酸化物の結晶成長  (BK13050I) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (8件)： 空気中 ,  走査型 ,  Kelvinプローブ ,  顕微鏡 ,  銀 ,  平板 ,  ファセット ,  方位