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J-GLOBAL ID：201702238005176762   整理番号：17A0073500

蛍光ミクロスフェアに基づく顕微鏡点拡散関数補正モデル【JST・京大機械翻訳】

An optimized model of point spread function of microscopy based on fluorescence beads

著者 (6件)： Lu Weimin (Jiangsu Key Laboratory of Medical Optics,Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology, Chinese Academy of Sciences) ,  Yang Xibin (Jiangsu Key Laboratory of Medical Optics,Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology, Chinese Academy of Sciences) ,  Wen Gang (Jiangsu Key Laboratory of Medical Optics,Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology, Chinese Academy of Sciences) ,  Zheng Xianliang (Jiangsu Key Laboratory of Medical Optics,Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology, Chinese Academy of Sciences) ,  Li Hui (Jiangsu Key Laboratory of Medical Optics,Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology, Chinese Academy of Sciences) ,  Xiong Daxi (Jiangsu Key Laboratory of Medical Optics,Suzhou Institute of Biomedical Engineering and Technology, Chinese Academy of Sciences)
資料名： Jiguang Jishu  (Jiguang Jishu)
巻： 40  号： 5  ページ： 638-642  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2072A  ISSN： 1001-3806  CODEN： JJISEO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 顕微鏡点拡散関数蛍光ミクロスフェアの従来の測定方法におけるミクロスフェア直径の測定結果への影響を修正し、顕微鏡点拡散関数の測定精度を向上させるため、理論的シミュレーション、最小二乗フィッティング法を用いて、蛍光ミクロスフェアの等価2次元濃度分布を確立し、蛍光微小球の顕微イメージング過程をシミュレーションした。最小二乗フィッティングと残差擬合法を用いて,蛍光ミクロスフェアの直径,蛍光強度分布の半値全幅とシステムの実際の点の拡散関数の半値全幅との関係モデルを得て,このモデルにより正確なシステム点拡散関数半値全幅を得た。結果は,100NMの蛍光ミクロスフェアを用いて,システムの点拡散関数を測定するとき,相対誤差が1%であることを示した。この研究結果は,この修正モデルにより,より正確なシステム点拡散関数を得ることができることを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： FWHM ,  シミュレーション ,  画像処理 ,  顕微鏡 ,  最小二乗法 ,  残差 ,  *点像分布関数 ,  二次元 ,  *蛍光 ,  測定精度 ,  濃度分布 ,  *ミクロスフェア
準シソーラス用語： 相対誤差 ,  蛍光強度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： microscopy ,  point spread function ,  fluorescent bead ,  nonlinear least square fitting

分類 (9件)： 放射,大気光学  (DC05080C) ,  高速空気力学  (BC03000C) ,  吸収  (XD02090P) ,  遷移金属元素(鉄族元素を除く)の錯体の結晶構造  (BK09030X) ,  薄膜一般  (BK14010X) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  反応操作(単位反応)  (XE01040I) ,  素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q) ,  軸受  (QB01020W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 蛍光 ,  ミクロスフェア ,  顕微鏡 ,  点拡散関数 ,  モデル