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J-GLOBAL ID：201702238471699843   整理番号：17A0045955

ナノSIMSによるシリケートガラス,ジルコンおよびアパタイトの希土類元素のマイクロスケール(~10μm)分析

Micro-scale (~10μm) analyses of rare earth elements in silicate glass, zircon and apatite with NanoSIMS

著者 (5件)： Zhang Jianchao (Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China) ,  Lin Yangting (Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China) ,  Yang Wei (Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China) ,  Hao Jialong (Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China) ,  Hu Sen (Key Laboratory of Earth and Planetary Physics, Institute of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China)
資料名： International Journal of Mass Spectrometry  (International Journal of Mass Spectrometry)
巻： 406  ページ： 48-54  発行年： 2016年08月01日 
JST資料番号： D0625A  ISSN： 1387-3806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリケートガラス,ジルコンおよびアパタイト中の希土類元素(REE)のマイクロスケール(~10μm)分析を,高質量分解能モード(m/Δm=~10000,10%)で操作するナノスケール二次イオン質量分析計(ナノSIMS)で行ったが,これは,軽REE一酸化物により重REEの等圧干渉を除去した。高い横方向の分解能を達成するために,~1nAの電流および直径<2.5μmに対する一次O^-プローブを最適化し,5×5μm²または10×10μm²の分析領域に渡って走査した。検体を,多重採取およびピークジャンピングの組み合併せモードで導き,分析効率を改善した。希土類元素と参照元素(SiまたはCa)を含む15イオン化学種を,4倍の磁場スイッチを通して計数した。NISTガラス,アパタイトおよびジルコンの標準を本研究で分析したが,これはフラットパターン,LREE-豊化およびLREE空乏を提示し,さまざまなマトリックス効果を示した。REEの相対的感受性因子(RSF)は,NISTガラスよりもジルコンで,³⁰Si⁺に関して,倍率で20~50%より高く,それらはアパタイトでNISTガラスよりも⁴²Ca⁺に関して,2~3倍高かった。したがって,REEの絶対濃度を,SIMS分析でマトリックスに適合した鉱物標準でのみ較正ができた。分析の再現精度(1SD)は,ケイ酸塩ガラス(NIST SRM 610)で<5%,アパタイト(Durango)で<10%およびジルコン(M257)で<15%であった。標準NISTガラス(NIST SRM 612),アパタイト(MADおよびOtter湖沼)ならびにジルコン(91500)の測定で決定された分析精度は,ジルコンのZrSiOおよびZrO₃で干渉されたLaを除いて,それぞれ10%,20%および30%よりも良好であった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  ナノ構造 ,  *ケイ酸塩ガラス ,  *ジルコン ,  燐灰石 ,  *希土類元素 ,  *長さ ,  *微量分析 ,  希土類元素化合物 ,  酸化物 ,  横方向 ,  分解能 ,  電流 ,  直径 ,  最適化 ,  跳躍現象 ,  効率 ,  規格 ,  標準化 ,  再現性
準シソーラス用語： NIST ,  アパタイト ,  ジャンピング ,  シリケートガラス ,  ナノSIMS ,  *マイクロスケール ,  再現精度

著者キーワード (5件)： Rare earth element ,  NanoSIMS ,  Apatite ,  Zircon ,  Silicate glass

分類 (3件)： 質量分析計  (BD02060M) ,  質量分析  (CC03013N) ,  各種鉱物一般  (DE08020P)

タイトルに関連する用語 (7件)： ナノSIMS ,  シリケートガラス ,  ジルコン ,  アパタイト ,  希土類元素 ,  マイクロスケール ,  分析